دانلود جزوه آموزش طیف سنجی جرمی یون ثانویه SIMS

جزوه آموزش جامع و کامل طیف سنجی جرمی یون ثانویه SIMS که یکی از روش های آنالیز در شیمی می باشد را همراه با بررسی انواع قسمت های دستگاه و شرح هر موضوع در ادامه از جم شیمی دانلود نمایید. در روش طیف‌نگاری و طیف سنجی جرمی یون ثانویه (SIMS) پرتویی از یون‌های اولیه که می‌تواند تا قطر حدود 20 نانومتر متمرکز شود، نمونه را روبش می‌کند و برای بیرون انداختن یون‌های ثانویه از نمونه به کار می‌رود.

جرم یون های ثانویه توسط یک طیف‌ نگار جرمی تعیین می‌شود. این تکنیک مخرب است و لایه اتم‌های مورد بررسی از نمونه برداشته می‌شود.

فهرست مطالب جزوه طیف سنجی جرمی یون ثانویه

1. Introduction
2. Primary Ion Sources
2.1 Duoplasmatron
2.2 Cs Ion Source
3. The Primary Column
4. Secondary Ion Extraction
5. Secondary Ion Transfer
6. Ion Energy Analyser
7. Mass Analyser
8. Secondary Ion Detectors
8.1 Electron Multipliers
8.2 Faraday Cup
8.3 Image Plate
8.4 RAE Image Detector
9. Electron Charge Neutralisation
10. Vacuum
11. Magnetic Field Control
11.1. Hall Probe Detectors
11.2 NMR Detectors

برای دانلود جزوه آموزش طیف سنجی جرمی یون ثانویه SIMS روی لینک های دانلود کلیک کنید