دانلود کتاب X-ray Photoelectron Spectroscopy: Principles, Techniques and Applications طیفسنجی فوتوالکترون پرتو ایکس: اصول، تکنیکها و کاربردها. این کتاب به بررسی جامع طیفسنجی فوتوالکترون پرتو ایکس (XPS) پرداخته و اصول، تجهیزات، روش‌های اندازه‌گیری و کاربردهای این تکنیک پیشرفته را در مشخصه‌یابی مواد معرفی می‌کند. XPS یکی از مهم‌ترین روش‌های آنالیز سطح است که با اندازه‌گیری انرژی جنبشی و تعداد فوتوالکترون‌های گسیل‌شده از لایه‌های سطحی مواد، اطلاعات دقیقی درباره ترکیب و ویژگی‌های شیمیایی آن‌ها ارائه می‌دهد.
در این کتاب، موضوعاتی مانند طیفسنجی فوتوالکترون پرتو ایکس (XPS)، آنالیز سطح، شیمی سطح، فیزیک سطح، مشخصه‌یابی مواد، ترکیب عنصری، فرمول تجربی، حالت شیمیایی عناصر، حالت الکترونی، ساختار نوار انرژی، سد شاتکی (Schottky Barrier)، مواد کربنی، پلیمرها، زیست‌مواد، باستان‌شناسی، آثار هنری، سامانه‌های زیستی، تفسیر طیف‌های XPS، تجهیزات XPS و علوم مواد مورد بررسی قرار گرفته‌اند.
کتاب علاوه بر تشریح مبانی نظری و اجزای دستگاه XPS، روش‌های تفسیر طیف‌ها و تحلیل داده‌ها را آموزش داده و کاربردهای گسترده این تکنیک را در حوزه‌های مختلف، از جمله تعیین ساختار الکترونی مواد، مطالعه مواد کربنی، شناسایی پلیمرها و زیست‌مواد، حفاظت آثار تاریخی و هنری و بررسی سامانه‌های زیستی، با مثال‌های کاربردی توضیح می‌دهد.
این کتاب برای دانشجویان، پژوهشگران و متخصصان رشته‌های شیمی، فیزیک، علوم مواد، مهندسی مواد، مهندسی شیمی، نانوفناوری، مهندسی سطح، پلیمر، زیست‌مواد و باستان‌سنجی مناسب است و منبعی ارزشمند برای یادگیری اصول، تکنیکها و کاربردهای طیفسنجی فوتوالکترون پرتو ایکس در آنالیز و مشخصه‌یابی مواد پیشرفته به شمار می‌آید.
مشخصات کتاب
- عنوان فارسی کتاب: طیفسنجی فوتوالکترون پرتو ایکس: اصول، تکنیکها و کاربردها
- نویسنده(ها): Arpana Agrawal
- سال انتشار: 2023
- زبان نوشتاری: انگلیسی
- شابک: 9798891131804, B0CKHVZZCY, 9798891132245
- تعداد صفحات: 242 صفحه
- فرمت کتاب: PDF
- حجم فایل فشرده: 9.86 مگابایت
دیدگاهها
هیچ دیدگاهی برای این محصول نوشته نشده است.