کتاب طیف سنجی فوتوالکترون اشعه ایکس

14,900 تومان

دانلود کتاب طیف سنجی فوتوالکترون اشعه ایکس X-ray Photoelectron Spectroscopy شامل آموزش مبانی و اصول پایه روش های اسپکتروسکوپی فوتوالکترون اشعه ایکس (XPS) در شیمی تجزیه می باشد. طیف سنجی فوتوالکترون پرتو ایکس توسط Johanna M. Wagner نوشته شده است. طیف سنجی فوتوالکترون اشعه ایکس یک روش طیف سنجی کمی است که ترکیب عنصری، فرمول تجربی، حالت شیمیایی و حالت الکترونیکی عناصر موجود در یک ماده را اندازه گیری می کند.

طیف های XPS با تابش ماده با پرتوی اشعه ایکس در حالی که به طور همزمان انرژی جنبشی (KE) و تعداد الکترون هایی را که از 1 تا 10 نانومتر از مواد تجزیه شده فرار می کنند، بدست می آیند. این کتاب به بررسی تحقیقات در زمینه طیف سنجی فوتوالکترون اشعه ایکس از جمله: مطالعات XPS از شیشه های صنعتی و فعال زیستی گرفته تا مواد زیستی می پردازد و برای تجزیه و تحلیل ساختار اتمی لایه های نازک شیشه های سیلیکات کاربرد دارد.

مشخصات کتاب

عنوان فارسی کتاب: طیف سنجی فوتوالکترون پرتو ایکس
نویسنده(ها): Johanna M. Wagner
سال انتشار: 2011
زبان نوشتاری: انگلیسی
شابک: 1616689153, 9781616689155
تعداد صفحات: 290 صفحه
فرمت کتاب: PDF
حجم فایل فشرده: 11 مگابایت

دیدگاهها

هیچ دیدگاهی برای این محصول نوشته نشده است.

اولین نفری باشید که دیدگاهی را ارسال می کنید برای “کتاب طیف سنجی فوتوالکترون اشعه ایکس”

نشانی ایمیل شما منتشر نخواهد شد. بخش‌های موردنیاز علامت‌گذاری شده‌اند *

دکمه بازگشت به بالا
بستن