Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials Third Edition
- نویسنده(ها): Brent Fultz, James M. Howe
- ویرایش: 3
- سال انتشار: 2008
- تعداد صفحات: 771 صفحه
- تعداد فصل ها: 2 فصل
- فرمت فایل: PDF
- حجم فایل فشرده: 12.1 مگابایت
99,000 تومان
Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials Third Edition
کتاب میکروسکوپ الکترونی عبوری و دیفرکتومتری مواد ویرایش 3 سوم Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials Third Edition از کتاب های مرجع و تخصصی شیمی که توسط Brent Fultz, James M. Howe تالیف و نوشته شده است.
این کتاب مفاهیم میکروسکوپ الکترونی انتقال و عبوری (TEM) و دیفرکتومتری اشعه ایکس (X-ray diffractometry (XRD) را توضیح می دهد که برای مشخص کردن مواد مهم هستند. نسخه سوم برای پوشش دادن پیشرفت های فنی مهم، از جمله پیشرفت های قابل توجه اخیر در حل و فصل TEM، به روز شده است. این نسخه به طور قابل توجهی طولانی تر از دوم نیست، اما تمام فصل ها برای وضوح به روز شده و اصلاح شده اند. یک فصل جدید در مورد روش های STEM با وضوح بالا اضافه شده است.
این کتاب توضیح می دهد که چگونه امواج و موج با اتم ها در جامدات ارتباط برقرار می کنند و شباهت ها و تفاوت های استفاده از اشعه ایکس، الکترون ها و یا نوترون ها برای اندازه گیری های پراکندگی نشان می دهد. اثرات تفکیک نظم کریستالی، نقص ها و اختلالات در مواد به تفصیل شرح داده شده است. هر دو موضوع عملی و نظری پوشش داده می شود. این کتاب را می توان در یک دوره مقدماتی یا سطح پیشرفته مورد استفاده قرار داد، زیرا بخش ها با مسائل و تمرین مشخص می شوند. هر فصل شامل مجموعه ای از تمرین برای نشان دادن اصول است، و ضمیمه گسترده شامل تمرینات آزمایشگاهی است.
مشخصات کتاب:
Transmission Electron Microscopy and Diffractometry of Materials Third Edition
دیدگاهها
هیچ دیدگاهی برای این محصول نوشته نشده است.