میکروسکوپ الکترونی انعکاسی و طیف سنجی برای آنالیز سطح

89,900 تومان

دانلود کتاب میکروسکوپ الکترونی انعکاسی و بازتابی REM و اسپکتروسکوپی و طیف سنجی برای آنالیز و تجزیه و تحیل سطح در شیمی تجزیه و کاربردهای آن. Reflection Electron Microscopy and Spectroscopy for Surface Analysis این کتاب مروری جامع بر نظریه‌ها، تکنیک‌ها و کاربردهای میکروسکوپ الکترونی بازتابی (REM)، پراش الکترونی با انرژی بالا (RHEED) و طیف‌سنجی از دست دادن انرژی الکترون بازتابی (REELS) است.

این کتاب به سه بخش تقسیم شده است: پراش، تصویربرداری و طیف‌سنجی. متن برای ترکیب تکنیک‌های پایه با کاربردهای خاص، تئوری‌ها با آزمایش‌ها و فیزیک پایه با علم مواد نوشته شده است تا تصویر کاملی از RHEED و REM پدیدار شود. این کتاب که یک مطالعه کاملا مستقل است، حاوی مطالب مرجع بسیار ارزشمندی است، از جمله کدهای منبع FORTRAN برای محاسبه داده‌های ساختارهای کریستالی و طیف‌های از دست دادن انرژی الکترون در هندسه‌های پراکندگی مختلف. این ویژگی و بسیاری ویژگی های دیگر باعث می شود که این کتاب به مضمونی مهم و به موقع در ادبیات علم مواد برای محققان و دانشجویان فارغ التحصیل رشته فیزیک و علم مواد تبدیل شود.

مشخصات کتاب

  • عنوان فارسی: میکروسکوپ الکترونی و اسپکتروسکوپی برای آنالیز سطح
  • نویسنده(ها): Zhong Lin Wang
  • سال انتشار:  2005
  • زبان نوشتاری: انگلیسی
  • شابک: 9780521017954, 0521017955, 9780521482660, 0521482666
  • تعداد صفحات:  456 صفحه
  • فرمت فایل: PDF
  • حجم فایل فشرده:  24.2 مگابایت

نقد و بررسی‌ها

هنوز دیدگاهی ثبت نشده است.

اولین کسی باشید که دیدگاهی می نویسد “میکروسکوپ الکترونی انعکاسی و طیف سنجی برای آنالیز سطح”

نشانی ایمیل شما منتشر نخواهد شد. بخش‌های موردنیاز علامت‌گذاری شده‌اند *

دکمه بازگشت به بالا