اسپکترومتری جرمی یون ثانویه خوشه ای: اصول و کاربردها

79,900 تومان

  • نویسنده(ها): Christine M. Mahoney
  • سال انتشار: 2013
  • تعداد صفحات: 358 صفحه
  • فرمت کتاب: PDF
  • حجم فایل فشرده: 8.90 مگابایت

اسپکترومتری جرمی یون ثانویه خوشه ای: اصول و کاربردها Cluster Secondary Ion Mass Spectrometry: Principles and Applications از کتاب های مرجع و تخصصی شیمی تجزیه در زمینه آموزش مبانی و اصول اسپکتروسکوپی جرمی یون ثانویه ای کلاستر (SIMS) می باشد. کتاب توسط Christine M. Mahoney نوشته شده است.

Cluster secondary ion mass spectrometry (SIMS) is a high spatial resolution imaging mass spectrometry technique, which can be used to characterize the three-dimensional chemical structure in complex organic and molecular systems. It works by using a cluster ion source to sputter desorb material from a solid sample surface. Prior to the advent of the cluster source, SIMS was severely limited in its ability to characterize soft samples as a result of damage from the atomic source. Molecular samples were essentially destroyed during analysis, limiting the method’s sensitivity and precluding compositional depth profiling.

مشخصات کتاب

  • عنوان فارسی کتاب: اسپکترومتری جرمی یون ثانویه خوشه ای: اصول و کاربردها
  • نویسنده(ها): Christine M. Mahoney
  • سال انتشار: 2013
  • زبان نوشتاری: انگلیسی
  • شابک: 0470886056, 9780470886052
  • تعداد صفحات: 358 صفحه
  • فرمت کتاب: PDF
  • حجم فایل فشرده: 8.90 مگابایت

نقد و بررسی‌ها

هنوز بررسی‌ای ثبت نشده است.

اولین کسی باشید که دیدگاهی می نویسد “اسپکترومتری جرمی یون ثانویه خوشه ای: اصول و کاربردها”

نشانی ایمیل شما منتشر نخواهد شد. بخش‌های موردنیاز علامت‌گذاری شده‌اند *

دکمه بازگشت به بالا