اسپکترومتری جرمی یون ثانویه خوشه ای: اصول و کاربردها

اسپکترومتری جرمی یون ثانویه خوشه ای: اصول و کاربردها Cluster Secondary Ion Mass Spectrometry: Principles and Applications از کتاب های مرجع و تخصصی شیمی تجزیه در زمینه آموزش مبانی و اصول اسپکتروسکوپی جرمی یون ثانویه ای کلاستر (SIMS) می باشد. کتاب توسط Christine M. Mahoney نوشته شده است.

Cluster secondary ion mass spectrometry (SIMS) is a high spatial resolution imaging mass spectrometry technique, which can be used to characterize the three-dimensional chemical structure in complex organic and molecular systems. It works by using a cluster ion source to sputter desorb material from a solid sample surface. Prior to the advent of the cluster source, SIMS was severely limited in its ability to characterize soft samples as a result of damage from the atomic source. Molecular samples were essentially destroyed during analysis, limiting the method’s sensitivity and precluding compositional depth profiling.

مشخصات کتاب

• عنوان فارسی کتاب: اسپکترومتری جرمی یون ثانویه خوشه ای: اصول و کاربردها
• نویسنده(ها): Christine M. Mahoney
• سال انتشار: 2013
• زبان نوشتاری: انگلیسی
• شابک: 0470886056, 9780470886052
• تعداد صفحات: 358 صفحه
• فرمت کتاب: PDF
• حجم فایل فشرده: 8.90 مگابایت