- نویسنده(ها): Jian V. Li, Giorgio Ferrari
- سال انتشار: 2018
- تعداد صفحات: 461 صفحه
- فرمت فایل: PDF
- حجم فایل فشرده: 17.3 مگابایت
دانلود کتاب طیف سنجی ظرفیت نیمه هادی ها
99,000 تومان
دانلود کتاب طیف سنجی ظرفیت نیمه هادی ها از سری کتاب های مرجع و تخصصی شیمی در زمینه آموزش مبانی، اصول و روش های اسپکتروسکوپی ظرفیت انواع نیمه هادی می باشد. کتاب Capacitance Spectroscopy of Semiconductors 1st Edition در سال 2018 از سوی انتشارات Pan Stanford و توسط Jian V. Li, Giorgio Ferrari نوشته و تالیف شده است.
Capacitance spectroscopy refers to techniques for characterizing the electrical properties of semiconductor materials, junctions, and interfaces, all from the dependence of device capacitance on frequency, time, temperature, and electric potential. This book includes 15 chapters written by world-recognized, leading experts in the field, academia, national institutions, and industry, divided into four sections: Physics, Instrumentation, Applications, and Emerging Techniques. The first section establishes the fundamental framework relating capacitance and its allied concepts of conductance, admittance, and impedance to the electrical and optical properties of semiconductors. The second section reviews the electronic principles of capacitance measurements used by commercial products, as well as custom apparatus. The third section details the implementation in various scientific fields and industries, such as photovoltaics and electronic and optoelectronic devices. The last section presents the latest advances in capacitance-based electrical characterization aimed at reaching nanometer-scale resolution.
مشخصات کتاب
- عنوان فارسی : طیف سنجی ظرفیت نیمه هادی ها
- نویسنده(ها): Jian V. Li, Giorgio Ferrari
- سال انتشار: 2018
- زبان نوشتاری: انگلیسی
- شابک: 9789814774543, 9814774545
- تعداد صفحات: 461 صفحه
- فرمت فایل: PDF
- حجم فایل فشرده: 17.3 مگابایت
دیدگاهها
هیچ دیدگاهی برای این محصول نوشته نشده است.