کتاب مقدمه ای بر آنالیز سطح با استفاده از XPS و AES ویرایش دوم

19,900 تومان

دانلود کتاب مقدمه ای بر آنالیز سطح با استفاده از روش آنالیز های طیف سنجی فوتوالکترون اشعه ایکس XPS و AES طیف سنجی نشر اتمی در شیمی تجزیه می باشد. کتاب An Introdution to Surface Analysis by XPS and AES 2nd Edition توسط John F. Watts نوشته شده است. تکنیک های کلیدی طیف سنجی فوتوالکترون در تجزیه و تحلیل سطح است.

مشخصات کتاب

عنوان فارسی کتاب: مقدمه ای بر آنالیز سطح با استفاده از XPS و AES ویرایش 2
نویسنده(ها): John F. Watts
سال انتشار: 2003
زبان نوشتاری: انگلیسی
شابک: 9780470847138, 0470847131
تعداد صفحات: 225 صفحه
فرمت کتاب: DjVu ( نرم افزار مشاهده DjvU)
حجم فایل فشرده: 4.63 مگابایت

دیدگاهها

هیچ دیدگاهی برای این محصول نوشته نشده است.

اولین نفری باشید که دیدگاهی را ارسال می کنید برای “کتاب مقدمه ای بر آنالیز سطح با استفاده از XPS و AES ویرایش دوم”

نشانی ایمیل شما منتشر نخواهد شد. بخش‌های موردنیاز علامت‌گذاری شده‌اند *

دکمه بازگشت به بالا
بستن