اسپکترومتری جرمی یون ثانویه: مقدمه ای بر مبانی و تمرین

اسپکترومتری جرمی یون ثانویه: مقدمه ای بر مبانی و تمرین

99,000 تومان

  • نویسنده(ها): Paul van der Heide
  • سال انتشار: 2014
  • تعداد صفحات: 386 صفحه
  • فرمت کتاب: PDF
  • حجم فایل فشرده: 3.37 مگابایت
شناسه محصول: 5131 دسته: برچسب: , , , , , , , ,

دانلود کتاب اسپکترومتری جرمی یون ثانویه: مقدمه ای بر مبانی و تمرین Secondary Ion Mass Spectrometry: An Introduction to Principles and Practices از کتاب های مرجع و تخصصی شیمی تجزیه در زمینه آموزش مبانی و اصول پایه طیف سنجی جرمی یون ثانویه می باشد. این کتاب توسط Paul van der Heide نوشته شده است.

مشخصات کتاب

  • عنوان فارسی کتاب: اسپکترومتری جرمی یون ثانویه: مقدمه ای بر مبانی و تمرین
  • نویسنده(ها): Paul van der Heide
  • سال انتشار: 2014
  • زبان نوشتاری: انگلیسی
  • شابک: 9781118480489, 1118480481
  • تعداد صفحات: 386 صفحه
  • فرمت کتاب: PDF
  • حجم فایل فشرده: 3.37 مگابایت

لینک کوتاه مطلب

برای کپی کلیک کنید

دیدگاهها

هیچ دیدگاهی برای این محصول نوشته نشده است.

اولین نفری باشید که دیدگاهی را ارسال می کنید برای “اسپکترومتری جرمی یون ثانویه: مقدمه ای بر مبانی و تمرین”

نشانی ایمیل شما منتشر نخواهد شد. بخش‌های موردنیاز علامت‌گذاری شده‌اند *

محصولات مشابه

دکمه بازگشت به بالا