بررسی پلاستیسیته کریستال در مقیاس نانو: ریزپراش اشعه ایکس سنکروترون

99,000 تومان

دانلود کتاب Probing Crystal Plasticity at the Nanoscales: Synchrotron X-ray Microdiffraction بررسی پلاستیسیته کریستال در مقیاس نانو: ریزپراش اشعه ایکس سنکروترون شیمی. این مختصر جستجو برای گرادیان‌های کرنش و نابجایی‌های هندسی ضروری را به‌عنوان منبع احتمالی استحکام برای دو مورد تغییر شکل مواد در مقیاس‌های کوچک برجسته می‌کند: مس تک کریستال نانو دندانه‌دار و ستون‌های طلای زیر میکرون تک بلور فشرده تک محوری.

هنگامی که مواد کریستالی به صورت مکانیکی در حجم های کوچک تغییر شکل می دهند، تنش های بیشتری برای جریان پلاستیک مورد نیاز است. این پدیده “کوچکتر قوی تر است” نامیده می شود و به طور گسترده مشاهده شده است. مطالعات نشان می دهد که پلاستیسیته در یک مورد واقعاً توسط GND ها (سخت شدن گرادیان کرنش) کنترل می شود، در حالی که در مورد دیگر، پلاستیسیته توسط شیب کرنش یا سخت شدن زیر ساختار کنترل نمی شود، بلکه توسط گرسنگی منبع دررفتگی کنترل می شود، که در آن حجم های کوچکتر قوی تر هستند زیرا منابع کمتری از دررفتگی در دسترس است (سخت شدن گرسنگی دررفتگی).

مشخصات کتاب

  • عنوان فارسی کتاب: بررسی پلاستیسیته کریستال در مقیاس نانو: ریزپراش اشعه ایکس سنکروترون
  • نویسنده(ها): Arief Suriadi Budiman
  • سال انتشار:  2015
  • زبان نوشتاری: انگلیسی
  • شابک: 9789812873347, 789812873354
  • تعداد صفحات: 123  صفحه
  • فرمت کتاب: PDF
  • حجم فایل فشرده:  4.68 مگابایت

دیدگاهها

هیچ دیدگاهی برای این محصول نوشته نشده است.

اولین نفری باشید که دیدگاهی را ارسال می کنید برای “بررسی پلاستیسیته کریستال در مقیاس نانو: ریزپراش اشعه ایکس سنکروترون”

نشانی ایمیل شما منتشر نخواهد شد. بخش‌های موردنیاز علامت‌گذاری شده‌اند *

دکمه بازگشت به بالا