دانلود کتاب
مشخصات کتاب
- عنوان فارسی: اسپکتروسکوپی فوتوالکترونی اوژه و اشعه ایکس در علم مواد
- نویسنده(ها): Siegfried Hofmann
- سال انتشار: 2013
- زبان نوشتاری: انگلیسی
- شابک: 3642273807, 9783642273803, 9783642273810
- تعداد صفحات: 543 صفحه
- فرمت کتاب: PDF
- حجم فایل فشرده: 9.17 مگابایت
لینک کوتاه مطلب
برای کپی کلیک کنید
دیدگاهها
هیچ دیدگاهی برای این محصول نوشته نشده است.