طیف‌ سنجی فوتوالکترونی اوژه و اشعه ایکس در علم مواد

دانلود کتاب Auger- and X-Ray Photoelectron Spectroscopy in Materials Science: A User-Oriented Guide طیف سنجی و اسپکتروسکوپی فوتوالکترونی اوژه AES و اشعه ایکس در علم مواد: راهنمای کاربر. برای کسانی که علاقه مند به تجزیه و تحلیل شیمیایی سطح مواد در مقیاس نانومتری هستند، این کتاب برای ارائه اطلاعات مناسب تهیه شده است. بر اساس نمونه های کاربردی معمولی در علم مواد، یک رویکرد مختصر به تمام جنبه های تحلیل کمی سطوح و لایه های نازک با AES و XPS ارائه شده است.

مشخصات کتاب

• عنوان فارسی: اسپکتروسکوپی فوتوالکترونی اوژه و اشعه ایکس در علم مواد
• نویسنده(ها): Siegfried Hofmann
• سال انتشار:  2013
• زبان نوشتاری: انگلیسی
• شابک: 3642273807, 9783642273803, 9783642273810
• تعداد صفحات: 543 صفحه
• فرمت کتاب: PDF
• حجم فایل فشرده: 9.17 مگابایت