دانلود کتاب طیف سنجی جرمی یون ثانویه Fred Stevie

دانلود کتاب طیف سنجی جرمی یون ثانویه Fred Stevie از سری کتاب های مرجع و تخصصی شیمی تجزیه در زمینه آموزش مبانی و اصول روش طیف سنجی جرمی یون ثانویه (sims) می باشد. Secondary Ion Mass Spectrometry: Applications for Depth Profiling and Surface Characterization  در سال 2015 توسط Fred Stevie نوشته و تالیف شده است.

مشخصات کتاب

• عنوان فارسی : طیف سنجی جرمی یون ثانویه: کاربرد برای پروفایل عمق و مشخصه سطحی
• نویسنده(ها): Fred Stevie
• سال انتشار:  2015
• زبان نوشتاری: انگلیسی
• شابک: 9781606505885
• تعداد صفحات:  290 صفحه
• فرمت فایل: PDF
• حجم فایل فشرده:  8.60 مگابایت
• نحوه دریافت: دریافت فوری و آنی لینک دانلود بعد از پرداخت