X-Ray Spectrometry in Electron Beam Instruments
- نویسنده(ها): Joseph Goldstein, Dale E. Newbury, David B. Williams
- سال انتشار: 1995
- تعداد صفحات: 374 صفحه
- فرمت فایل: PDF
- حجم فایل فشرده: 13.8 مگابایت
359,000 تومان
X-Ray Spectrometry in Electron Beam Instruments
دانلود کتاب طیف سنجی X-Ray اشعه ایکس در دستگاه باریکه الکترونی David B. Williams
دانلود کتاب X-Ray Spectrometry in Electron Beam Instruments که به بررسی کاربردهای طیف سنجی و اسپکتروسکوپی اشعه ایکس در دستگاه پرتو و باریکه الکترونی پرداخته است و مفاهیم و تکنیک های این آنالیز را به خوبی شرح و آموزش داده است. این کتاب توسط Joseph Goldstein, Dale E. Newbury, David B. Williams نوشته و تالیف شده است.
مشخصات کتاب
X-Ray Spectrometry in Electron Beam Instruments



دیدگاهها
هیچ دیدگاهی برای این محصول نوشته نشده است.