دانلود جزوه روش های پیشرفته مطالعه و آنالیز مواد با XRF و EDS دانشگاه صنعتی شریف

EDS اسپکتروسکوپی اشعه X انرژی متفرق یک قابلیت آنالیز است که می تواند با دستگاه های دیگری همچون میکروسکوپ الکترونی روبشی ( SEM )، میکروسکوپ الکترونی عبوری ( TEM ) و میکروسکوپ الکترونی عیوری روبشی ( STEM ) کوپل شود.EDS، زمانی که با تجهیزات تصویریرداری گفته شده ترکیب می شود، می تواند آنالیز عنصری دقیقتری در مورد نانومواد نمایش دهد. به دلیل تابش پرتوی الکترون بر سطح نمونه، اشعه ایکس ساطع می گردد که مشخصه های عنصری نمونه را نشان می دهد. آنالیز EDS جهت تشخیص ترکیب عناصر موجود در نمونه در نقاط معینی از آن و یا نقشه ای از توزیع عناصر موجود در نمونه با توجه به سطح تصویر برداری شده استفاده میشود.

EDS طیف نگاري پراکندگی انرژي در اوایل دهه 1970 تبدیل به یک محصول تجاري شد و به سرعت در محبوبیت از WDS پیشی گرفت.  سیستم EDS از از لحاظ ساختاري ساده است زیرا بخشهاي متحرك مانند آشکارساز WDS را ندارد. سیستم هاي EDS نسبتا سریع تر هستند زیرا، به جاي جمع آوري سیگنال هاي تک تک طول موج هاي پرتو ایکس، تمام سیگنال هاي انرژي پرتوهاي ایکس مشخصه تمام عناصر موجود در نمونه به صورت همزمان در آشکارساز جمع آوري میشوند.

قدرت تفکیک پراکندگی انرژي EDS معمولا حدود 200-150 الکترون ولت می باشد که بدتر از قدرت تفکیک WDS می باشد و سبک ترین عنصر قابل شناسایی Z=8 و عنصر اکسیژن می باشد و نه Z=6 و عنصر کربن .اما اهمیت این معایب به اندازه مزایاي سیستم EDS مانند هزینه کمتر و آنالیز سریع نیست .

(Si(Li رایج ترین آشکارساز مورد استفاده در سیستم EDS است. آشکار ساز (Si(Li شامل استوانه کوچکی از سیلیکون نوع p و لیتیم به شکل دیود است که به طور شماتیک در شکل بعد نشان داده میشود.

برای دانلود جزوه روش های پیشرفته مطالعه و آنالیز مواد با XRF و EDS دانشگاه صنعتی شریف روی لینک های دانلود کلیک کنید