دانلود مقاله تخصصی شیمی طیف‌ نگاری جرمی یون ثانویه SIMS

SIMS یا طیف نگاری جرمی یون ثانویه  یکی از روشهای آنالیز و شناسایی ترکیبات شیمیایی است که کاربردهای فراوانی دارد. در این پست از سایت جم شیمی یک مقاله تخصصی به زبان اصلی برای شما دوست داران علم شیمی آماده دانلود کرده ایم .در روش طیف‌نگاری جرمی یون ثانویه (SIMS) پرتوی از یون‌های اولیه که می‌تواند تا قطر حدود 20 نانومتر متمرکز شود، نمونه را روبش می‌کند و برای بیرون انداختن یون‌های ثانویه از نمونه به کارمی‌رود. جرم یون های ثانویه توسط یک طیف‌نگار جرمی تعیین می‌شود. این تکنیک مخرب است و لایة اتم‌های مورد بررسی از نمونه برداشته می‌شود.

برخی از کاربردهای طیف نگاری جرمی یون ثانویه SIMS

• آنالیز ترکیب شیمیایی سطح با قدرت تفکیک عمقی در حدود 5 تا10 نانومتر
•  تهیه پروفیل غلظت عناصر در عمق ماده
•  آنالیز عناصر در غلظت‌های بسیار کم (trace) در محدوده ppt تا ppm
•  شناسایی لایه‌های سطحی آلی یا غیرآلی بر روی فلزات، شیشه‌ها، سرامیک‌ها، لایه‌های نازک یا پودرها
• تهیه پروفیل عمقی لایه‌های سطحی اکسید، لایه‌های نازک خوردگی، لایه‌های نازک حل شده (leached) و تهیه پروفیل‌های نفوذی
  پروفیل‌عمقی غلظتی مقادیر کم عناصر ذوب شده (dopants) (PPm 1000 ) که به صورت نفوذی یا کاشته شده (implanted) به مواد نیمه‌هادی افزوده شده است.
• تعیین غلظت هیدروژن و پروفیل‌های عمقی در آلیاژهای فلزی ترد شده (embrittled) لایه‌های نازک تهیه شده از نشاندن بخار (Vapor- deposited)، شیشه‌های هیدراته و مواد معدنی
• آنالیز کمی غلظت بسیار کم عناصر در جامدها
• فراوانی ایزوتوپ‌ها در نمونه‌های زمین‌شناسی
• مطالعات غلظت‌های بسیار کم (برای مثال نفوذ و اکسیداسیون)
• توزیع فلزی در مواد معدنی زمین شناسی، سرامیک‌های چند فازی و فلزها
• توزیع فاز ثانویه ناشی از جدایش مرزدانه‌ها، اکسیداسیون داخلی یا رسوب

برای دانلود مقاله تخصصی شیمی طیف‌ نگاری جرمی یون ثانویه SIMS به زبان اصلی ودر 23 صفحه فایل PDF روی لینک های دانلود کلیک کنید.