دانلود کتاب Secondary Electron Energy Spectroscopy in The Scanning Electron Microscope طیف سنجی انرژی الکترون ثانویه در میکروسکوپ الکترونی روبشی در شیمی. این کتاب به موضوع اسپکتروسکوپی انرژی ثانویه در میکروسکوپ الکترونی روبشی (SEM) می پردازد. SEM یک ابزار تحقیقاتی پرکاربرد برای تحقیقات علمی و مهندسی است و الکترون‌های پراکنده کم انرژی آن که به عنوان الکترون‌های ثانویه شناخته می‌شوند، عمدتاً برای تصویربرداری توپوگرافی در مقیاس نانو استفاده می‌شوند.
این کتاب مزایای انجام طیف سنجی انرژی الکترونی دقیق الکترون‌های ثانویه آن، علاوه بر استفاده از آنها برای تصویربرداری را نشان می‌دهد. این کتاب نشان خواهد داد که چگونه طیف‌سنجی انرژی الکترون ثانویه می‌تواند SEM را به یک ابزار تحلیلی قدرتمند تبدیل کند که می‌تواند اطلاعات ارزشمند علم مواد را در مقیاس نانو ترسیم کند و آن را بر روی تصویربرداری حالت توپوگرافی معمولی ابزار قرار دهد. این کتاب نشان می‌دهد که چگونه می‌توان از SEM برای تعیین کمیت/شناسایی مواد، به دست آوردن چگالی توده اطلاعات حالت‌ها، گرفتن توزیع‌های چگالی ناخالص در نمونه‌های نیمه‌رسانا، و نقشه‌برداری توزیع بار سطحی استفاده کرد.
مشخصات کتاب
- عنوان فارسی کتاب: طیف سنجی انرژی الکترونی ثانویه در میکروسکوپ الکترونی روبشی
- نویسنده(ها): Anjam Khursheed
- سال انتشار: 2020
- زبان نوشتاری: انگلیسی
- شابک: 9789811227028
- تعداد صفحات: 344 صفحه
- فرمت کتاب: PDF
- حجم فایل فشرده: 10.4 مگابایت
دیدگاهها
هیچ دیدگاهی برای این محصول نوشته نشده است.