دانلود کتاب میکروسکوپ نیروی اتمی AFM: تصویربرداری، اندازه گیری و دستکاری سطوح در مقیاس اتمی Atomic Force Microscopy: Imaging, Measuring and Manipulating Surfaces at the Atomic Scale در شیمی. با ظهور میکروسکوپ نیروی اتمی (AFM) یک منبع تحلیلی و تکنیک بسیار ارزشمند برای تجزیه و تحلیل سطح کیفی و کمی با وضوح زیر نانومتری مفید بود.
بعلاوه، نمونه های مطالعه شده با AFM به هیچ پیش تصفیه خاصی که ممکن است نمونه را تغییر دهد یا آسیب برساند نیاز ندارد و امکان بررسی سه بعدی سطح را فراهم می کند. این کتاب مجموعه ای از تحقیقات جاری دانشمندان سراسر جهان را ارائه می دهد که از میکروسکوپ نیروی اتمی در تحقیقات خود استفاده می کنند.
این تکنیک به طور گسترده ای پذیرفته شده است و برای به دست آوردن داده های ارزشمند در زمینه های مختلف مورد استفاده قرار می گیرد. دیدن این که چگونه در یک دوره زمانی کوتاه از زمان توسعه آن در سال 1986، چگونه تکثیر شده و کاربردهای زیادی در تولید، تحقیق و توسعه یافته است، قابل توجه است.
مشخصات کتاب
- عنوان فارسی: میکروسکوپ نیروی اتمی: تصویربرداری، اندازه گیری و دستکاری سطوح در مقیاس اتمی
- نویسنده(ها): Victor Bellitto
- سال انتشار: 2012
- زبان نوشتاری: انگلیسی
- شابک: 9789535104148, 9535104144
- تعداد صفحات: 267 صفحه
- فرمت فایل: PDF
- حجم فایل فشرده: 10.3 مگابایت
دیدگاهها
هیچ دیدگاهی برای این محصول نوشته نشده است.