دانلود کتاب X-ray Photoelectron Spectroscopy 2nd Edition: An Introduction to Principles and Practices طیف‌سنجی فوتوالکترون پرتو ایکس (XPS) ویرایش دوم: مقدمه‌ای بر اصول و شیوه‌های عملی. این کتاب مقدمه‌ای جامع بر طیف‌سنجی فوتوالکترون پرتو ایکس (XPS) ارائه می‌دهد و اصول، تجهیزات، روش‌های عملی و کاربردهای این تکنیک را در آنالیز و شناسایی ترکیب و شیمی سطوح جامد بررسی می‌کند. نویسنده با بهره‌گیری از سال‌ها تجربه در آنالیز سطح، خوانندگان را از مفاهیم بنیادی تا کاربردهای پیشرفته XPS و تکنیک‌های مرتبط هدایت می‌کند.
در این کتاب، موضوعاتی مانند طیف‌سنجی فوتوالکترون پرتو ایکس (XPS)، طیف‌سنجی فوتوالکترون (PES)، آنالیز سطح، شیمی سطح، فیزیک سطح، HAXPES، NAP-XPS، نشر فوتوالکترون، تجهیزات XPS، آماده‌سازی نمونه، روش‌های اندازه‌گیری، بهره‌برداری از دستگاه، خودکارسازی آزمایش‌ها، کمی‌سازی داده‌ها، تفسیر طیف‌ها، مشخصه‌یابی مواد، سینکروترون و علوم مواد مورد بررسی قرار گرفته‌اند.
کتاب علاوه بر تشریح اصول نظری، نحوه کار با تجهیزات XPS، توسعه روش‌های آنالیز، پردازش و تفسیر داده‌ها را آموزش داده و با استفاده از مطالعات موردی در آزمایشگاه‌ها، مراکز صنعتی و تأسیسات سینکروترونی، کاربردهای عملی این تکنیک را در پژوهش و صنعت نشان می‌دهد. همچنین پیشرفت‌های جدید این حوزه و تفاوت‌ها و ارتباط XPS با سایر روش‌های طیف‌سنجی فوتوالکترون بررسی شده‌اند.
این کتاب برای دانشجویان، پژوهشگران و متخصصان رشته‌های شیمی، فیزیک، علوم مواد، مهندسی مواد، مهندسی شیمی، نانوفناوری و مهندسی سطح مناسب است و منبعی ارزشمند برای یادگیری اصول، روش‌ها و کاربردهای طیف‌سنجی فوتوالکترون پرتو ایکس در مشخصه‌یابی سطوح و مواد پیشرفته به شمار می‌آید.
مشخصات کتاب
- عنوان فارسی کتاب: طیف‌سنجی فوتوالکترون پرتو ایکس (XPS) ویرایش دوم
- نویسنده(ها): Paul van der Heide
- سال انتشار: 2026
- زبان نوشتاری: انگلیسی
- شابک: 9781394269426, 1394269412, 9781394269419
- تعداد صفحات: 253 صفحه
- فرمت کتاب: Converted PDF
- حجم فایل فشرده: 9.84 مگابایت
دیدگاهها
هیچ دیدگاهی برای این محصول نوشته نشده است.