دانلود کتاب Atomic-force Microscopy and Its Applications میکروسکوپ نیروی اتمی و کاربردهای آن. این کتاب به معرفی اصول، فناوری و کاربردهای میکروسکوپ نیروی اتمی (Atomic Force Microscopy – AFM) می‌پردازد؛ یکی از مهم‌ترین ابزارهای نانوفناوری و علوم سطح که امکان مشاهده و بررسی ساختارها و خواص مواد را در مقیاس نانومتر فراهم می‌کند. AFM با اندازه‌گیری نیروهای بسیار ضعیف بین یک نوک بسیار تیز و سطح نمونه، می‌تواند تصاویر سه‌بعدی با وضوح بسیار بالا از سطح مواد تهیه کند.
کتاب معمولاً مباحثی مانند موارد زیر را پوشش می‌دهد:
- اصول فیزیکی و عملکرد میکروسکوپ نیروی اتمی
- اجزای اصلی دستگاه و نحوه کار آن
- حالت‌های مختلف تصویربرداری (تماسی، غیرتماسی و ضربه‌ای)
- اندازه‌گیری زبری، مورفولوژی و خواص سطحی مواد
- بررسی خواص مکانیکی، الکتریکی و مغناطیسی در مقیاس نانو
- کاربردهای AFM در علوم مواد، شیمی، فیزیک، زیست‌شناسی و مهندسی
میکروسکوپ نیروی اتمی امروزه در مطالعه نانومواد، پلیمرها، نیمه‌رساناها، بیومولکول‌ها، سلول‌های زنده، پوشش‌های سطحی و بسیاری از سامانه‌های پیشرفته کاربرد گسترده‌ای دارد.
این کتاب منبعی ارزشمند برای دانشجویان، پژوهشگران و متخصصان حوزه نانوفناوری، علم مواد، فیزیک، شیمی و مهندسی است که قصد دارند با مبانی و کاربردهای میکروسکوپ نیروی اتمی آشنا شوند.
مشخصات کتاب
- عنوان فارسی کتاب: میکروسکوپ نیروی اتمی و کاربردهای آن
- نویسنده(ها): Seok Hyun Eom
- سال انتشار: 2024
- زبان نوشتاری: انگلیسی
- شابک: 1682519112, 9781984684752, 9781682519110
- تعداد صفحات: 292 صفحه
- فرمت کتاب: PDF
- حجم فایل فشرده: 6.41 مگابایت
دیدگاهها
هیچ دیدگاهی برای این محصول نوشته نشده است.