دانلود جزوه آنالیز فوتوالكترون پرتو ایکس، فوتوالکترون ماورا بنفش، بازتاب پرتو ایکس XPS-UPS-XRR

جزوه آموزش جامع و کامل آنالیز فوتوالکترون پرتوایکس XPS و آنالیز فوتوالکترون ماورا بنفش UPS و آنالیز بازتاب پرتو ایکس XRR شامل شرح هر کدام از این روش های طیف نگاری همراه با شکل و تصاویر مرتبط در ادامه از جم شیمی دانلود نمایید. با پیشرفت روش هایی در جهت ساخت لایه های نازک و ساختارهای چندلایه ای، چنین ساختارهایی کاربردهای گسترده ای پیدا کرده اند. بنابراین کنترل دقیق لایه های نازک به منظور ساخت ادوات کارآمد و تکرارپذیر ضروری است. بررسی پارامترهای مربوط به لایه ها مانند ضخامت و چگالی آنها به دلیل اثر قابل ملاحظه کیفیت فصل مشترک لایه ها روی آنها، ضروری است. 

در میان آنالیزهای گوناگون برای مطالعه ساختار و مورفولوژی، بازتاب پرتو ایکس (X-Ray Reflectivity – XRR) کاربرد گسترده ای در لایه های نازک دارد. طیف نگاری فوتوالکترونی اشعه ایکس ،(XPS) روش آنالیزی برای بررسی سطح مواد از نقطه نظر آنالیز عنصری،ترکیب شیمیایی و تعیین حالت پیوندی است. در این روش، سطح نمونه با اشعه ی ایکسِ تک انرژی بمباران می شود و فوتوالکترون های پر انرژی ترِ تولید شده موفق به فرار از ماده می شوند. این فوتوالکترون ها پس از ارسال به تحلیل گر انرژی و تعیین انرژی جنبشی آنها، به آشکارساز هدایت می شوند تا تعداد فوتوالکترون های تولیدی با انرژی جنبشی مشخص شمارش شوند. در نهایت این اطلاعات به صورت تعداد فوتوالکترون ها بر حسب انرژی پیوندی رسم می شوند. از آن جایی که انرژی فوتوالکترون های داخلی، مشخصه هر اتم است؛ تعیین عناصر موجود در نمونه، با اندازه گیری انرژی های جنبشی فوتوالکترون های خارج شده از نمونه، امکان پذیر است. حالت شیمیایی عناصر موجود در نمونه، از انحرافات مختصر در انرژی های جنبشی و غلظت های نسبی آن عناصر با
توجه به شدت های فوتوالکترون های مربوط به هر عنصر قابل اندازه گیری است.
برای دانلود جزوه آنالیز فوتوالكترون پرتو ایکس، فوتوالکترون ماورا بنفش، بازتاب پرتو ایکس XPS-UPS-XRR روی لینک های دانلود کلیک کنید